基于Comsol压电横波双晶探头的深度缺陷检测技术-优化表面波和纵波直探头的盲区问题,针对表面波受平整度干扰及纵波直探头盲区问题的双晶探头-高精度Comsol压电横波检测系统,comsol压电横波

iRRbbATrZIP压电横波双晶探头为解决表面波受表面  241.58KB

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  9. 探究压电横波双晶探头在表面缺陷检测中的应用摘.txt 2.16KB
  10. 探索中的压电横波双晶探头深入理解与实.txt 1.87KB
  11. 探索压电横波双晶探头的技术应用在科.txt 2.09KB
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资源介绍:

基于Comsol压电横波双晶探头的深度缺陷检测技术——优化表面波和纵波直探头的盲区问题,针对表面波受平整度干扰及纵波直探头盲区问题的双晶探头——高精度Comsol压电横波检测系统,comsol压电横波双晶探头 为解决表面波受表面平整度影响以及纵波直探头盲区问题，宜使用双晶探头检测表面下一定深度的缺陷。 模型采用1MHz频率的压电片，对深度8mm，长5mm的裂纹缺陷进行探测，图1为存在裂纹时的接收波形，图2为无缺陷时的回波。 ,comsol;压电横波;双晶探头;表面波;平整度;纵波直探头;盲区;模型;频率;裂纹缺陷;接收波形;回波,COMSOL压电横波双晶探头：表面缺陷无损检测新选择
<link href="/image.php?url=https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/css/base.min.css" rel="stylesheet"/><link href="/image.php?url=https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/css/fancy.min.css" rel="stylesheet"/><link href="/image.php?url=https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/90401731/2/raw.css" rel="stylesheet"/><div id="sidebar" style="display: none"><div id="outline"></div></div><div class="pf w0 h0" data-page-no="1" id="pf1"><div class="pc pc1 w0 h0"><img alt="" class="bi x0 y0 w1 h1" src="/image.php?url=https://csdnimg.cn/release/download_crawler_static/90401731/bg1.jpg"/><div class="t m0 x1 h2 y1 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">探究<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">COMSOL<span class="_ _1"> </span></span>压电横波双晶探头在缺陷检测中的应用</div><div class="t m0 x1 h2 y2 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">在当今的工业界<span class="ff3">，</span>非破坏性检测技术已经成为衡量产品质量<span class="ff4">、</span>保证安全运行的不可或缺的一环<span class="ff4">。</span>其中</div><div class="t m0 x1 h2 y3 ff3 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">，<span class="ff1">双晶探头因其独特的优势</span>，<span class="ff1">在表面下一定深度的缺陷检测中发挥着越来越重要的作用<span class="ff4">。</span>本文将围绕</span></div><div class="t m0 x1 h2 y4 ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">COMSOL<span class="_ _1"> </span><span class="ff1">压电横波双晶探头展开技术分析<span class="ff3">，</span>探究其在解决实际问题中的应用与价值<span class="ff4">。</span></span></div><div class="t m0 x1 h2 y5 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">一<span class="ff4">、</span>背景与挑战</div><div class="t m0 x1 h2 y6 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">表面波受到表面平整度的影响<span class="ff3">，</span>可能导致检测结果的失真<span class="ff3">；</span>而纵波直探头在检测过程中存在盲区问题</div><div class="t m0 x1 h2 y7 ff3 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">，<span class="ff1">使得某些深度处的缺陷难以被检测到<span class="ff4">。</span>为解决这些问题</span>，<span class="ff1">使用双晶探头成为了一个理想的选择<span class="ff4">。</span>双</span></div><div class="t m0 x1 h2 y8 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">晶探头结合了横波与纵波的优势<span class="ff3">，</span>能在更广泛的深度范围内实现高精度的缺陷检测<span class="ff4">。</span></div><div class="t m0 x1 h2 y9 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">二<span class="ff4">、<span class="ff2">COMSOL<span class="_ _1"> </span></span></span>压电横波双晶探头简述</div><div class="t m0 x1 h2 ya ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">COMSOL<span class="_ _1"> </span><span class="ff1">压电横波双晶探头采用<span class="_ _0"> </span></span>1MHz<span class="_ _1"> </span><span class="ff1">频率的压电片<span class="ff3">，</span>通过精确的电路设计<span class="ff3">，</span>实现了横波与纵波的完</span></div><div class="t m0 x1 h2 yb ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">美结合<span class="ff4">。</span>这种探头能够在不同深度范围内实现精确的缺陷探测<span class="ff3">，</span>尤其在表面下一定深度的缺陷检测中</div><div class="t m0 x1 h2 yc ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">表现出色<span class="ff4">。</span></div><div class="t m0 x1 h2 yd ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">三<span class="ff4">、</span>实验设计与结果分析</div><div class="t m0 x1 h2 ye ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">为验证<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">COMSOL<span class="_ _1"> </span></span>压电横波双晶探头的性能<span class="ff3">，</span>我们进行了一系列实验<span class="ff4">。</span>在实验过程中<span class="ff3">，</span>我们对深度为</div><div class="t m0 x1 h2 yf ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">8mm<span class="ff4">、<span class="ff1">长度为<span class="_ _0"> </span></span></span>5mm<span class="_ _1"> </span><span class="ff1">的裂纹缺陷进行了探测<span class="ff4">。</span>结果显示<span class="ff3">，</span>存在裂纹时的接收波形<span class="ff3">（</span>图<span class="_ _0"> </span></span>1<span class="ff3">）<span class="ff1">与无缺陷时的</span></span></div><div class="t m0 x1 h2 y10 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">回波<span class="ff3">（</span>图<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">2<span class="ff3">）</span></span>具有明显差异<span class="ff4">。</span>这种差异为判断是否存在缺陷提供了直观的依据<span class="ff4">。</span></div><div class="t m0 x1 h2 y11 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">图<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">1<span class="ff3">：</span></span>存在裂纹时的接收波形</div><div class="t m0 x1 h2 y12 ff3 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">（<span class="ff1">请在此处插入图<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">1</span></span>）</div><div class="t m0 x1 h2 y13 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">图<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">2<span class="ff3">：</span></span>无缺陷时的回波</div><div class="t m0 x1 h2 y14 ff3 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">（<span class="ff1">请在此处插入图<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">2</span></span>）</div><div class="t m0 x1 h2 y15 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">通过对实验数据的分析<span class="ff3">，</span>我们发现<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">COMSOL<span class="_ _1"> </span></span>压电横波双晶探头能够准确识别出深度为<span class="_ _0"> </span><span class="ff2">8mm<span class="_ _1"> </span></span>的裂纹缺陷</div><div class="t m0 x1 h2 y16 ff4 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">。<span class="ff1">这表明<span class="ff3">，</span>该探头在解决表面波受表面平整度影响以及纵波直探头盲区问题方面具有良好的效果</span>。</div><div class="t m0 x1 h2 y17 ff1 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">四<span class="ff4">、</span>技术优势与应用前景</div><div class="t m0 x1 h2 y18 ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">COMSOL<span class="_ _1"> </span><span class="ff1">压电横波双晶探头具有以下技术优势<span class="ff3">：</span></span></div><div class="t m0 x1 h2 y19 ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">1.<span class="_ _2"> </span><span class="ff1">精度高<span class="ff3">：</span>能够在表面下一定深度实现高精度的缺陷检测<span class="ff4">。</span></span></div><div class="t m0 x1 h2 y1a ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">2.<span class="_ _2"> </span><span class="ff1">适用范围广<span class="ff3">：</span>适用于不同材质<span class="ff4">、</span>不同厚度的工件检测<span class="ff4">。</span></span></div><div class="t m0 x1 h2 y1b ff2 fs0 fc0 sc0 ls0 ws0">3.<span class="_ _2"> </span><span class="ff1">抗干扰能力强<span class="ff3">：</span>能有效抵抗表面平整度对检测结果的影响<span class="ff4">。</span></span></div></div><div class="pi" data-data='{"ctm":[1.568627,0.000000,0.000000,1.568627,0.000000,0.000000]}'></div></div>
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